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光伏電站IV曲線測試的目的：測量串開路電壓（Voc）和短路電流（Isc）以及極性；Z大功率點電壓（Vmpp）、電流（Impp）和峰值功率（Pmax）的測量；光伏組件/組串填充系數FF的測量；識別光伏組件/陣列缺陷或遮光等問題；積塵損失、溫升損失，功率衰減、串并聯適配損失計算等。

iv曲線測試儀的基礎概念：Voc開路電壓；Isc短路電流；Vmpp Z大功率點電壓；Impp Z大功率點電流；Pmax峰值功率。
    IV曲線的基礎概念：填充因子FF是太陽能電池品質的量度，定義為實際的Z大輸出功率除以理想目標的輸出功率(Isc?Voc)，FF越大，太陽能電池的質量越高。FF的典型值通常處于60~85%，并由太陽能電池的材料和器件結構決定。
    影響IV曲線的因素：輻照度越大，短路電流越大，輻照度對于開路電壓影響不大。
    溫度越高，開路電壓越小，溫度對短路電流影響不大；溫度一定的情況下，輻照度越高，組件輸出功率越大；組件的IV曲線分析：STC狀態下的組件電參數。
    組件的IV曲線分析：IV曲線測試儀測試的數值轉換到STC條件下的值和廠家出廠的datasheet值進行對比才有意義
    IV曲線測試步驟：確保待測組串和逆變器斷開；被測試組串應該隔離并連接到I-V曲線測試設備；根據被測試組件的特性、類型和數量對測試儀器進行設置；與I-V曲線測試儀相關的輻照度計應安裝成與陣列平面匹配，并對其進行檢查以確保其不受任何局部遮光或反射光的影響。在使用參考電池裝置的情況下，應對其進行檢查，以確保其與被測陣列具有相同的電池技術，或者針對技術上的差異進行適當的修正。
    IV曲線測試步驟：I-V曲線測試儀使用電池溫度探頭時，它應與組件后部緊密接觸，并且在朝向模塊中心的電池中心，同時檢查并且串Voc值在期望的范圍內。在輻照度達到儀器要求值并穩定時開始測試。
    IV曲線測試接線：注意事項：參考組件和待測組件保持水平；背板溫度傳感器放置待測組件中心位置；輻照度不穩定時或過低時會影響STC換算。
    IV曲線評估：1、階梯或凹陷；2、低電流；3、低電壓；4、圓膝；5、豎直腿淺坡；6、水平腿陡坡。
    IV曲線評估-階梯或凹陷：I-V曲線中的階梯或凹陷表示被測試的陣列或組件的不同區域之間的不匹配情況，可能會有如下情況引起：陣列或組件局部遮擋；陣列或組件局部污漬或以其他方式遮蔽（比如雪等）；PV電池片/組件損壞；旁路二極管短路。
    IV曲線評估-低電流：許多因素可以導致預期電流和測量電流之間的變化，這些總結如下
    陣列原因：均勻污染；條紋遮擋（縱向組件）；污垢壩（縱向組件）；光伏組件劣化。
    建模原因：PV組件數據輸入錯誤；錯誤地輸入多個并聯串。
    IV曲線評估-低電壓：電壓變化的潛在原因包括以下陣列原因：旁路二極管導通或短路；光伏串的組件數量錯誤；電勢誘導衰減（PID）；對整個電池片/組件/組串有明顯的、均勻的遮擋。
    建模原因：錯誤地輸入PV組件數據；錯誤輸入串中的組件數目。
    測量原因：PV電池溫度與測量值不同，IV曲線評估-圓膝：I-V曲線的膝蓋的倒圓可能是老化過程的表現。在得出結論之前，檢查I-V曲線的水平和垂直腿的斜率。如果它們已經改變，則會在膝蓋的形狀中產生視覺上類似的效果。
    IV曲線評估-豎直腿中的淺坡：Z大功率點（Vmpp）和Voc之間的I-V曲線的后一部分的斜率受到對被測電路的串聯電阻的影響。增加的電阻將減小曲線的該部分中的斜率的陡度。
    串聯電阻增加的潛在原因包括：光伏配線損壞或故障（或電纜尺寸不足）；組件或陣列互連處故障（連接不良）；組件自身串聯電阻增加（電池片連接導致高阻或接線盒老化腐蝕）當使用長電纜測試陣列時，這些電纜的電阻將影響曲線形狀，并可能對曲線產生影響，建議使用四線法測量。
    IV曲線評估-水平腿的陡坡：I-V曲線上部的斜率變化可能是由于；PV電池中的分流路徑；組件Isc不匹配；錐形陰影或污垢（例如污垢壩）。
    如何利用IV曲線測試儀（光伏安規測試儀）快速定位問題組件：測量組串發現曲線有臺階；依次遮擋單個組件，短路電流會下降，但曲線臺階基本不變；當遮擋到某個組件發現曲線正常時，可判斷此組件有問題。